И. Н. Бурдонский, А. Г. Леонов, К. Н. Макаров, В. Н. Юфа
- АО “ГНЦ РФ Троицкий институт инновационных и термоядерных исследований”, г. Москва, г. Троицк
- Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет), Московская облаcть, г. Долгопрудный
Аннотация: Приведены результаты экспериментов по исследованию абляции каменных поликристаллических мишеней сложного многокомпонентного состава, имитирующих вещество астероидов. Облучение мишеней проводилось наносекундными импульсами излучения неодимового лазера при плотности энергии ФL до 5 × 104 Дж/см2. Эксперименты продемонстрировали наличие двух режимов абляции, граница между которыми лежит при ФL ≈ 4000 Дж/см2. Смена режимов характеризуется изменением вида зависимости поверхностной плотности массы удаленного вещества мишени от плотности энергии лазерного излучения и появлением минимума в зависимости удельной энергии разрушения от ФL, что, вероятно, связано с переходом от режима одномерного разлета плазмы факела к режиму трехмерного разлета и, соответственно, с падением эффективности передачи энергии от лазерного пучка к мишени вследствие уменьшения плотности лазерной плазмы. Эксперименты показали также наличие максимума в зависимости удельного импульса отдачи Cm от плотности энергии лазерного излучения (Cm ≈ 6.3 × 10-5 Н/Вт при ФL = Фopt ≈ 25 Дж/см2). Максимумы зарегистрированы и в зависимостях от ФL эффективности абляции и средней скорости абляционного потока. При ФL > Фopt спад зависимости Cm(ФL) оказывается существенно более крутым, чем для металлов и полимерных материалов. По-видимому, такое отличие вызвано меньшей прочностью и меньшей пластичностью поликристаллических каменных мишеней.
Ключевые слова: лазерная абляция, плазменный факел, каменные мишени, удельный импульс отдачи, отклонение астероидов.
Поступила в редакцию: 10.02.2020
Исправленный вариант: 10.03.2020
Образец цитирования: И. Н. Бурдонский, А. Г. Леонов, К. Н. Макаров, В. Н. Юфа, “Экспериментальное исследование лазерной абляции каменных поликристаллических мишеней”, Квантовая электроника, 50:8 (2020), 763–769 [Quantum Electron., 50:8 (2020), 763–769]