Спектроскопический метод сравнения для определения температуры электронов высокотемпературной плазмы тяжелых элементов
А. П. Шевелько Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН, г. Москва Аннотация: Для дальнейшего развития метода сравнения исследованы рентгеновские спектры лазерной плазмы легких (Si, S, Cl, K, Ca, Ti) и тяжелых (Mo, W) элементов. Плазма создавалась при фокусировке наносекундного лазерного излучения (λ = 0.53 мкм, EL = 5 Дж, τ =2 нс) на массивные… Читать далее »