Изготовление и тестирование в мягком рентгеновском и ЭУФ диапазонах дифракционных решеток с Au- и многослойным Mo/Si-покрытиями и с блеском в высоких порядках
Институт аналитического приборостроения РАН, г. Санкт-Петербург Академический университет имени Ж. И. Алфёрова РАН, г. Санкт-Петербург Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского Аннотация: Дифракционные решетки 500 штрих./мм с блеском и низкой шероховатостью, предназначенные для работы в высоких порядках… Читать далее »