С. Н. Савенков, Р. С. Муттиах, Е. А. Оберемок, А. В. Приезжев, И. С. Коломиец, А. С. Климов
- Киевский национальный университет имени Тараса Шевченко, факультет радиофизики, электроники и компьютерных систем
- Department of Civil Engineering, University of Texas-Arlington, Arlington, USA
- Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет
- Международный учебно-научный лазерный центр МГУ им. М. В. Ломоносова
Аннотация: Представлены результаты измерения матриц Мюллера для трех групп образцов листьев ячменя обыкновенного (Hordeum vulgare): мутант Сhlorina, этиолированный мутант Сhlorina и сорта Cesaer. Продемонстрирована повторяемость результатов измерения матриц Мюллера такого сложного и сильно деполяризующего объекта, как лист растения. Показано, что листья ячменя этих трех групп могут быть достоверно идентифицированы как при рассеянии вперед, так и при рассеянии назад; оптимальным вариантом является рассеяние вперед. В обоих случаях определены наиболее информативные для идентификации матричные элементы. Показано также, что при рассеянии света назад проявляется линейный дихроизм, величина которого возрастает при уменьшении угла наблюдения.
Ключевые слова: мюллер-поляриметрия, лист ячменя, матрица Мюллера, вектор Стокса, степень поляризации, дихроизм.
Поступила в редакцию: 31.10.2019
Исправленный вариант: 28.11.2019
Образец цитирования: С. Н. Савенков, Р. С. Муттиах, Е. А. Оберемок, А. В. Приезжев, И. С. Коломиец, А. С. Климов, “Измерение и интерпретация матриц Мюллера листьев ячменя”, Квантовая электроника, 50:1 (2020), 55–60 [Quantum Electron., 50:1 (2020), 55–60]